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weli
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Last seen: 5 months 2 weeks ago
Joined: 2018-07-13 04:00
DA14580量產時,產測一上電,機率性不穩定問題.

Dear Dialog,
我司在DA14580量產時,產測時發現,模塊在上電時,會有機率性的程序不工作,但在重新上電後,行為又正常,
請問針對這部份是否有何建議??
是一上電,晶振還沒穩定所致,還是一上電,電源問題所致,或是軟件問題所致.??
在請Dialog幫忙回覆

謝謝.

Device: 
CYibin
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Last seen: 2 weeks 6 days ago
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Joined: 2017-12-14 02:48
你好,

你好,

在硬件设计上,请按照下面设计文档的要求,检查你当前硬件的设计。

https://support.dialog-semiconductor.com/resource/b-054-da14585586-appli...

另外,该概率大概是多少?

weli
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Last seen: 5 months 2 weeks ago
Joined: 2018-07-13 04:00
Dear CYibin,

Dear CYibin,
感謝您撥冗回覆,
我們機率大約8-10%左右,
但在移除battery又上電又回到正常,
我check過您提供的design guideline.
我們在5.7 Battery Bouncing
這部份我們並沒有加VBAT跟RST之間加一個1uF.
請問我們的root cause是否為這個所導致?????
----
另外,如果我們在VBAT跟RST之間加了1uF的話,
我們RST有用外部電阻Pull down到GND是不是就要移除掉???

謝謝您的回覆....

CYibin
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Last seen: 2 weeks 6 days ago
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Joined: 2017-12-14 02:48
你好,

你好,

从这个概率数字来看,由我的经验,问题可能由两方面原因引起:

1、电源。

有的客户选用的 DCDC 由于质量比较差,上电的时候有脉冲且纹波较大,影响到 Da 的上电。

可使用干净的电源直接对 da 做上电测试,绕过 DCDC(如果有的话)。看是否问题还在

2、如你所说是 Battery Bouncing。下拉电阻可不用去掉。

weli
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Last seen: 5 months 2 weeks ago
Joined: 2018-07-13 04:00
Dear CYibin,

Dear CYibin,
您好,不好意思,在請教二個問題.
1.如附檔為我司的線路圖,請問我們對比reference design,我們多加了L3,
請問這是是否會何影響????
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2.您提及的>>>>可使用干净的电源直接对 da 做上电测试,绕过 DCDC(如果有的话)<<<<
請問我們線路圖應該沒有加外部DCDC,直接由VBAT(CR2032供應)那是不是可排除掉這個問題???
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Attachment: 
CYibin
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Last seen: 2 weeks 6 days ago
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Joined: 2017-12-14 02:48
你好,

你好,

抱歉回复晚了。

这个问题出现的疑点比较多,需要逐步排查。

  1. 晶振两边的电容原则上是不能放焊盘
  2. 复位电路R9可以贴一个1uF电容试试
  3. 2.2uH电感也可以去掉。